產(chǎn)品名稱：標(biāo)準(zhǔn)參考物質(zhì) NIST SRM 1134 - 低合金高硅鋼(圓盤形)
英文名稱：Low-Alloy High-Silicon Steel (disk form)
品牌：美國NIST標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)
| 產(chǎn)品編號 | 規(guī)格 | 貨期 | 銷售價 | 您的折扣價 |
|---|---|---|---|---|
| SRM 1134 | disk | 4周 | 8730 | 立即咨詢 |
- COA
- MSDS
NIST SRM 1134低合金高硅鋼(標(biāo)準(zhǔn)品)是一種在退火條件下發(fā)布的低合金鋼，含有大量硅。 SRM 1134 旨在用于評估和校準(zhǔn)化學(xué)和儀器分析方法。 SRM 1134 的一個單元由一個直徑約 31 毫米、厚 19 毫米的圓盤組成。
認(rèn)證質(zhì)量分?jǐn)?shù)值：
被測量是 SRM 1134 中每種成分的認(rèn)證值。表 1 中以質(zhì)量分?jǐn)?shù)形式報(bào)告了 10 種成分的認(rèn)證值 [1]。賦值類別基于 NIST 對化學(xué)參考材料 [2] 使用的術(shù)語和模式的定義。 NIST 認(rèn)證值是 NIST 對其準(zhǔn)確性有最高置信度的值，因?yàn)樗幸阎蚩梢傻钠顏碓炊家驯徽{(diào)查或考慮在內(nèi)。認(rèn)證值是根據(jù) NIST 和合作實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行的分析結(jié)果對真實(shí)值的當(dāng)前最佳估計(jì)。計(jì)量溯源性是導(dǎo)出的 SI 單位的質(zhì)量分?jǐn)?shù)（以百分比表示）。
參考質(zhì)量分?jǐn)?shù)值：
被測量是表 2 中報(bào)告的鋁的參考值。參考值是對真實(shí)值的最佳估計(jì)的非認(rèn)證值；但是，該值不符合 NIST 認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)，并且提供了相關(guān)的不確定性，可能不包括所有來源不確定性 [2]。計(jì)量溯源性是導(dǎo)出的 SI 單位的質(zhì)量分?jǐn)?shù)（以百分比表示）。信息來評估與該值相關(guān)的不確定性。信息值不能用于建立計(jì)量溯源性。
認(rèn)證到期：
NIST SRM 1134低合金高硅鋼(標(biāo)準(zhǔn)品)的認(rèn)證在規(guī)定的不確定性范圍內(nèi)無限期有效，前提是按照本證書中給出的說明處理和存儲 SRM（參見“使用說明”）。因此，不需要定期重新校準(zhǔn)或重新認(rèn)證此 SRM。如果 SRM 損壞、污染或以其他方式修改，則認(rèn)證無效。
SRM 認(rèn)證的維護(hù)：
NIST 將在其認(rèn)證期間監(jiān)控此材料。如果在本證書到期前發(fā)生影響認(rèn)證的實(shí)質(zhì)性技術(shù)變更，NIST 將通知購買者。注冊（見附件，或在線注冊）將有助于通知。
使用說明
測試表面是與標(biāo)記表面相對的一側(cè)，其中包括 SRM 編號。該裝置的整個厚度都經(jīng)過認(rèn)證。但是，警告用戶在使用 X 射線熒光光譜法時不要測量厚度小于 2 毫米的圓盤。每個封裝的磁盤都是通過使用銑削完成測試表面來準(zhǔn)備的機(jī)器。用戶必須為每種分析技術(shù)確定正確的表面處理程序。提醒用戶在重修磁盤或進(jìn)行額外拋光時要小心，因?yàn)檫@些過程可能會污染表面。 NIST 發(fā)現(xiàn)在表面磨削過程中必須經(jīng)常更換砂紙。用過的紙失去了去除鋼材表面污染物的能力。不使用時，應(yīng)將材料存放在其原始容器中，置于陰涼干燥的地方。使用實(shí)心圓盤和由圓盤制備的芯片測試該材料。認(rèn)證值被認(rèn)為代表了材料的總體平均成分。
陳經(jīng)理（銷售）
