SRM1976c X射線粉末標準品由燒結氧化鋁圓盤組成，用于校準 X 射線粉末衍射設備的線位置和強度作為 2θ 角的函數(shù)。 SRM 的固體形式消除了由樣品加載過程引入的強度測量中的任何可變性。 SRM 1976c 的一個單元由一個直徑約為 25.6 毫米、厚度為 2.2 毫米的燒結氧化鋁圓盤組成。
典型應用場景
儀器校準：SRM1976c X射線粉末標準品作為 XRD 設備的基準校準物質(zhì)，可實現(xiàn) 2θ 角峰位精度校準（如布魯克 D8 ADVANCE 系列依賴其實現(xiàn)≤0.01°2θ 的峰位精度保證）。
性能驗證：適用于 Rigaku Miniflex 等帶自動進樣器的 XRD 系統(tǒng)，用于質(zhì)量控制、方法驗證和儀器性能長期監(jiān)控。
數(shù)據(jù)校正：可用于獲取儀器輪廓函數(shù)（IPF）近似值，為衍射峰形分析、微觀結構計算提供校正依據(jù)。
使用與儲存要求
1. 使用規(guī)范
安裝時可沿表面法線任意方向擺放，軸對稱紋理設計確保不同安裝角度下的測量一致性。 測量過程中需考慮偏振影響，建議結合設備配套軟件進行參數(shù)修正。
2. 儲存條件
SRM1976c X射線粉末標準品無需特殊低溫環(huán)境，在常規(guī)實驗室環(huán)境溫度、干燥避光條件下儲存即可。 避免圓盤表面劃傷、污染或物理損壞，否則將導致認證失效；未發(fā)現(xiàn)實驗室常規(guī)使用下的衍射性能退化現(xiàn)象。
3. 認證有效性
在符合儲存和使用規(guī)范的前提下，認證結果在規(guī)定測量不確定度內(nèi)無限期有效。
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陳經(jīng)理（銷售）
