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高分辨率X射線衍射（HRXRD）標準品，如NIST SRM 2000，是一種為HRXRD社區提供國際單位制（SI）可追蹤的校準標準的材料。這些標準品為實驗者提供了準確的參考，以確保X射線衍射實驗的結果具有高度的準確性和可靠性。

NIST SRM 2000標準品的一個單元通常包括標稱50 nm的25 mm×25 mm×0.725 mm雙拋光(100)取向單晶Si。它提供了關于Si(220) d間距、透射面到晶面晶片以及參考波長的反射中的表面到Si(004)布拉格角等關鍵參數的信息。

這些高分辨率X射線衍射標準品SRM 2000在材料科學、物理學、化學和工程學等領域中具有重要的應用，用于研究材料的晶體結構、相變、缺陷和應力等性質。通過使用這些標準品，研究人員可以準確地校準他們的X射線衍射設備，從而獲得更可靠和準確的實驗結果。

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